二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9189354 待售

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製造商
J.A. WOOLLAM
模型
M-2000
ID: 9189354
優質的: 2005
Ellipsometer EC-400 Controller Focused M-2000 Model: X (500) Wavelengths: 193-1000 nm Multiple incident angles of 45/60/75° (3 mm x 4.5 mm Spot) Incident angle with microspot lens: 60° (25x50 Micron spot size) XENON FLS-350 75W Source Power module: EPM-222 WATEC WAT-902H2 Video camera Fixed angle base with rotating compensator Motorized stage: Tip / Tilt XY Mapping stage: 200 mm x 200 mm PC Operating system: Windows 7 2005 vintage.
J.A. WOOLLAM M-2000是一種先進的光學橢圓儀,可測量薄膜的厚度和光學特性。M-2000利用專利旋轉補償器技術測量薄膜的折射率和消光系數。該儀器具有單色光源,通過兩對交叉的線性偏振器傳輸。當光通過樣品時,偏振態發生改變,所得強度的差異與樣品的光學性質有關。J.A. WOOLLAM M-2000設計用於廣泛的應用,包括薄膜沈積、光學塗層、半導體器件制造和表面科學。M-2000利用低角度光譜橢圓偏振儀(LASE),可以測量0-15 nm的薄膜,精度優於0.1度。它與獨特的多通道探測器系統相結合,為薄膜測量提供了最高的精度和準確性。J.A. WOOLLAM M-2000還具有一個新穎的內部樣品環境,用於自動溫度控制。這是測量半導體等具有強溫度依賴性光學性質的材料時的優勢。該儀器的自動旋轉補償系統允許光滑準確地測量薄膜,無論其方向如何。M-2000的內置軟件界面允許用戶輕松控制和可視化數據測量。軟件提供實時反饋,可用於快速診斷問題和調整設置。該軟件還支持高級數據采集例程和實驗協議的管理。J.A. WOOLLAM M-2000是一種功能強大、用途廣泛的儀器,可用於測量薄膜性能,精度和精確度都很高。它結合了先進的光學技術和自動化的數據采集軟件,成為各行業研發的寶貴工具。
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