二手 RUDOLPH FE III #9063426 待售

RUDOLPH FE III是一種先進的光學橢圓儀，用於表征表面和薄膜。它可以量化光學特性，如折射率、消光系數和表面厚度以及薄層和多層。它將液晶調制與紅外成像光譜相結合，以前所未有的精度和多功能性獲得表征結果。RUDOLPH FEIII能夠獲取中紅外至近紫外波長的光譜數據，非常適合廣泛的工業和研究應用。它有一個計算機控制的測量室，有五個運動軸，允許在平面或曲面上進行精確的自動測量，而無需重新校準。此外,頭部的傾斜運動補償可確保無論表面方向如何,都能獲得精確的測量結果。該儀器還包括超靈敏探測器，可最大限度地減少對激光功率的需求，使其對於表征薄膜和細膩表面極為有用。它配備了自動化的、用戶定義的數據采集程序,並且可以使用基於Windows®的直觀軟件包輕松編程。FE-III被優化用於評估粘合劑、塗料、塗料和其他光學活性物質的表面性能。其敏感的紅外探測器也可用於量化折射率、消光系數等半導體薄膜的光學性質。它是光學、材料工程和半導體技術領域研究的寶貴工具，非常適合用於質量控制、光學計量和薄膜研究實驗室。RUDOLPH FE-III可以超高精度測量廣泛的光學參數。它的自動化五軸設計簡化了校準過程,並且傾斜運動補償最大程度地減少了測量平坦或彎曲曲面時重新校準的任何要求。其超靈敏探測器允許極低功率激光估計，使得該工具非常適合薄膜表征。該儀器可輕松與其他分析和科學儀器集成，其直觀的基於Windows®的軟件使其編程變得簡單。FEIII是廣泛的工業和研究應用的理想工具，從光學活性表面表征到半導體薄膜分析。