二手 RUDOLPH FE III #9100481 待售

RUDOLPH FE III是一種橢圓偏光計，一種通常用來測量薄膜和基板光學特性的裝置。這種先進的工具能夠以納米精度測量薄膜的光學特性，廣泛應用於廣泛的科學應用，包括光學、電子、材料科學和生物學。RUDOLPH FEIII的基本操作是通過使用橢圓偏振現象來測量薄膜的光學性質。這是一種光學方法，其中偏振光入射到物體上，並測量反射光的性質。然後利用反射光偏振角和強度的變化來計算樣品的光學常數。FE-III具有高性能特性，能夠精確測量薄膜性能。這些功能包括高分辨率極化儀、MTECA CCD探測器、專門設計的光路和直觀的用戶界面。FEIII還包括兩個集成腔室，一個光路穩定控制系統，以及一個允許在450-1000nm範圍內測量膠片的長波長系統。RUDOLPH FE-III能夠廣泛的橢圓偏振應用。該裝置的測量能力包括薄膜厚度和光學常數的測定，除了分析單層、多層和多層表面的折射率。FE III還具有實時捕獲、分析和可視化的能力,從而能夠可靠地獲取和報告數據。簡而言之，RUDOLPH FE III是一種先進的橢圓偏光計，可用於高精度測定薄膜和基板的光學性質。它的長波長範圍、直觀的用戶界面和高性能特性使其成為科學和工業應用不可或缺的工具。