二手 RUDOLPH SS1 #9126170 待售

RUDOLPH SS1
製造商
RUDOLPH
模型
SS1
ID: 9126170
Ellipsometer.
RUDOLPH SS1是一種自動化的高性能光譜橢圓儀,設計用於精確測量光學各向異性。該系統旨在測量材料在折射率、消光系數、吸收系數和其他光學性質方面的變化,精度低於納米。SS1具有復雜但易於使用的軟件包,可以分析多個入射角和偏振角,並能夠進行幹式和濕式測量。RUDOLPH SS1的核心是它的光譜儀聚焦光學模塊,它允許用單個激光脈沖同時測量多達四個不同的樣本。激光脈沖用於在樣品臂中引入光學元件,如四分之一波板(QWP)。QWP用於在樣品中引入極化各向異性,從而可以高精度測量角度相關折射率的差異。然後使用此測量來確定樣品的光學特性。SS1是完全自動化的,允許對一系列樣本進行自主測量。它具有用戶友好的軟件界面,可以方便地操作光譜參數,如入射角、波長範圍和所需的分辨率。該系統預編程了與樣品相關的各種光學常數的測定,如吸收率、反射率和雙折射。RUDOLPH SS1收集的所有數據都被記錄下來,可以通過軟件界面進行用戶定義,以便進一步分析。此外,SS1的性能非常通用。其操作靈活性允許測量具有亞納米分辨率的薄膜塗層、電子材料和半導體基器件。該系統還配置了可變偏振選擇器,用於同時測量具有不同偏振各向異性度的樣品。總而言之,RUDOLPH SS1是一種先進的光譜橢圓儀,能夠以亞納米精度精確測量光學各向異性。它具有自動化的界面和用戶友好的功能,使其成為分析各種樣本的可靠且通用的解決方案。
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