二手 SENTECH SE 400ADV #9359635 待售

SENTECH SE 400ADV是一種先進的高精度掃描橢圓儀，旨在測量薄膜的厚度和光學常數。它提供了卓越的準確性和可重復性,允許用戶跟蹤表面質量和過程隨時間的變化。該儀器有一個2軸旋轉安裝平臺，可以掃描各種樣品，而其大的活動區域提供直徑可達20mm的測量。SENTECH SE400ADV利用單色控制光源，配有高性能光譜儀。這種組合被用來測量光從標本反射時發生的光偏振的變化。利用各種測量值和測量，儀器可以確定樣品的厚度、組成和存在於樣品上的層。該系統還包括集成的特定於樣本的軟件，該軟件提供易於使用的圖形用戶界面，以確保高效的數據收集和分析。SE 400ADV提供了廣泛的適用材料，如半導體、薄膜層、聚合物和許多其他材料。它與透明和不透明的樣品材料兼容，允許用戶分析各種薄膜結構和層厚度。其精確的光路長度對準使得能夠精確分析具有出色臨界尺寸和厚度測量的小型樣品。該系統還采用數據驅動FilmSmart™技術，為每個樣品提供自動優化測量硬件，以確保最大精度。此外,它還可以快速輕松地設置多個樣品,非常適合在生產設施中使用。總體而言,SE400ADV是一種可靠、精確的掃描橢圓儀,它提供了一系列特征和準確性,可精確、詳細地測量薄膜層、材料和光學常數。