二手 SENTECH Senduro 300 #293644159 待售

SENTECH Senduro 300
製造商
SENTECH
模型
Senduro 300
ID: 293644159
晶圓大小: 8"
優質的: 2008
Ellipsometer, 8" 2008 vintage.
SENTECH Senduro 300是一種最先進的薄膜計量橢圓儀。它設計用於測量層厚度、組成、密度和其他材料參數,具有卓越的精度和精確度。該裝置利用多種先進的光學原理來測量樣品在光譜的紅外和可見範圍內的偏振狀態。Senduro 300的光學配置包含高精度壓電測角儀和幹涉偏振儀。測角儀用於精確旋轉樣品,並對外部橢圓偏振參數進行角度相關分析。根據研究材料選擇合適的入射角,用雙角偏振儀推導光學常數,如折射率、消光系數、復介電函數等。SENTECH Senduro 300能夠實現非常高的精確度,並且還具有快速、非接觸式測量的特點。樣本位置使用集成的手動階段和內置的電動階段進行調整。後者配有控制器和激光指示器,允許樣品表面精確對準。Senduro 300除了提供卓越的測量精度和速度外,還配備了幾種先進的軟件功能。例如,橢圓偏振儀包括一個自動溫度控制和溫度補償系統,可確保在很寬的溫度範圍內得到一致的結果。此外,SENTECH Senduro 300還集成了復雜的多層分析工具和各種報告圖片以及圖形表示。Senduro 300憑借其先進的光學、精確的可移動級和強大的軟件,是薄膜材料的一個非常寶貴的表征工具。它允許對層厚、組成和密度以及各種其他參數進行高度精確和可重復的測量。這使其成為半導體和光學器件制造質量保證的寶貴儀器。
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