二手 SENTECH Senduro #293651563 待售

SENTECH Senduro
製造商
SENTECH
模型
Senduro
ID: 293651563
Ellipsometer.
SENTECH Senduro是一種先進的橢圓儀,用於測量各種樣品的薄膜厚度、光學常數和表面粗糙度。橢圓偏光計可以測量具有廣泛光學性質的樣品,如折射率(n)、消光系數(k)、薄膜厚度(t)、表面粗糙度(r)等光學特性。Senduro利用了一種激光源,它是根據特定的波長和角度組合量身定制的。角度可從6度調整到78度,從而可以評估各種示例配置。此外,集成的旋轉級允許精確的角度對準和大角度範圍的樣品測量。SENTECH Senduro利用一個精密的光學感應系統來分析從樣品反射的光的取向。該裝置可根據薄膜變化檢測光的偏振變化。這允許測量各種參數,如薄膜厚度、折射率、消光系數和表面粗糙度。Senduro設計為低維護,不需要額外的濾波器或檢測器元件。它非常精確,薄膜厚度的分辨率低至0.005,折射率和消光系數的分辨率低至+-0.001。該設備利用直觀的軟件,使用戶能夠快速輕松地分析其數據。它最多可以存儲2000個測量值,並且具有較高的數據傳輸率,使用戶能夠快速分析和保存大型數據集。SENTECH Senduro是一款功能強大、精確且易於使用的橢圓儀,旨在幫助用戶快速測量薄膜特性和光學特性。精確的角度對準以及廣泛的波長和角度組合,可以進行精確的樣本評估和高度精確的結果。
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