二手 FEI DualBeam 835 #293594852 待售

FEI DualBeam 835
ID: 293594852
Scanning Electron Microscope (SEM) SFEG Electron column Magnum ion column CDEM Detector TLD Detector ETD Detector Platinum GIS Carbon GIS Chiller Oil free turbo pumps Pre-vacuum pump.
FEI DualBeam 835是一款先進的離子銑削設備,提供獨特的納米級表面分析功能。這臺多功能儀器集成了FIB(聚焦離子束)系統和SEM(掃描電子顯微鏡)柱,實現了精密的表面修改、高分辨率成像和詳細的元素分析。DualBeam 835的FIB分量能夠進行濺射蝕刻、沈積和電子束光刻。這些功能使操作員能夠以納米精度研磨和成形材料,同時深入了解納米級的材料特性和微觀結構。集成的SEM組件使操作員能夠以高達5 nm的橫向分辨率對銑削曲面進行成像,並執行其他特性,例如化學和電氣測量。FEI DualBeam 835具有高壓室,樣品室壓力為10-6 Torr,可見激光對準,用於精確樣品定位,雙作用氣體噴射單元,用於精確氣體控制。其先進的源控制機允許精確調整光束的能量以及離子束直徑和電流設置。這些功能加上強大的軟件包,為用戶提供了廣泛的離子銑削應用程序的詳細控制和靈活性。DualBeam 835是需要先進離子銑削能力和納米級材料詳細表征的研究人員、制造商和工程師的理想選擇。利用集成的FIB和SEM組件,該儀器能夠以最少的時間和精力為用戶提供可靠且可重復的結果。
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