二手 FEI FIB 611 #9201717 待售

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製造商
FEI
模型
FIB 611
ID: 9201717
Focused ion beam system.
FEI FIB 611是一種高分辨率掃描電子顯微鏡,用於納米級分析材料。它配備了冷場發射槍(FEG)和最先進的電子光學元件,提供卓越的分辨率和成像能力。它非常適合圖像粒子、表面和納米結構。FIB 611包括帶渦輪分子泵的真空系統和帶雙透鏡內檢測器的離子束柱,以提供準確的成像和結果。該系統允許以最小的檢測限制捕獲高速圖像。因此,它提供了處理不同材料和不同環境樣本的能力。FEI FIB 611有很大的工作區域,可以容納各種尺寸的樣品。這些樣品與樣品支架保持在適當的位置,然後將樣品直接放置到用電子束掃描的階段。此外,FIB 611帶有自動化的樣本導航和傾斜功能,讓研究人員能夠準確識別和查看納米結構。FEI FIB 611還有一系列成像和分析選項。這些包括低壓和高壓電子顯微鏡、化學分析、原子力顯微鏡。它還提供透射電子顯微鏡,其中高能電子束通過樣品,然後通過物鏡評估。FIB 611還能夠處理具有挑戰性的研究任務,例如在常規顯微鏡下難以訪問的材料區域中進行成像。它經常用於3D圖像重建,讓研究人員獲得三個維度的納米結構的詳細圖像。最後,FEI FIB 611由於具有高質量的成像和分析能力,被用於多個行業。深受研究機構、大學、半導體行業企業的青睞。它也被生物技術和制藥公司使用,甚至被用於生物醫學儀器的開發。
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