二手 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #9081351 待售

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ID: 9081351
優質的: 2004
Focused ion beam system Electron and ion beams: Yes (2) Gas injection systems: PT, unlabeled Detectors: Secondary Backscatter Chamberscope Main instrument: Semiconductor Stage tilt: Yes Rotation capability: 45° or more Features / addons: Micromanipulator Second gas: Ins 2004 vintage.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於對多種材料的納米級結構進行成像和分析。它配備了3軸精密級,使其能夠同時移動到三個軸,以進行精確的樣品定位。此外,顯微鏡能夠提供0.5 nm的橫向分辨率和0.3 nm的垂直精度的表面高分辨率成像。FEI Nova NanoLab 200集成了先進的自動化成像和分析軟件,使用戶能夠快速準確地捕獲和分析圖像。它也是用高效電子槍建造的,它產生高強度的電子束,用於成像到原子級的表面。這種電子槍的設計目的是使由於電子束與樣品相互作用而產生的充電效果最小化。PHILIPS Nova NanoLab 200還包括一個自動化的樣品激發系統,該系統控制光束的大小和方向,以優化圖像對比度,適用於廣泛的應用。它還配備了種類繁多的軟件包,以協助樣品準備、分析和條件優化的各個方面。Nova NanoLab 200還通過其集成的專用電動掃描儀利用復雜的計算機掃描操作。該系統允許沿著樣品的所有軸線進行自動掃描,並能夠控制電子束的曝光時間和亮度,這是顯微鏡成功操作成像的關鍵組成部分。最後,PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200具有廣泛的附件,旨在增強用戶的體驗。這些附件包括一個簡化圖像捕捉的顯微鏡控制器,一個快速分析圖像數據的圖像分析程序,以及設計用來幫助操縱標本環境的各種操縱器,如持有者、頂蓋、標本持有者和蒸氣壓力操縱器。總而言之,FEI Nova NanoLab 200憑借其精密的掃描電子顯微鏡,是研究納米級結構和材料的絕佳選擇。它提供了高精度、先進的自動化成像和分析系統,以及各種工具和附件,可用於優化操作。憑借其多功能性和經濟性,它是任何研究者的理想選擇。
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