二手 ELECTROGLAS / EG 1034XA-6 #201048 待售

ID: 201048
晶圓大小: 6"
Prober, 6" Transistor die size: ~2000-4000 µm Transistor pad size: >200 µm Substrate sheet thickness: 125-1000 µm Thermal chuck: 0-50°C, ± 1ºC Stage travel: 6.0 in/152.4 mm Travel speed: 5.0 in/sec, 127.0 mm/sec Acceleration: 1G Index range: 0005 in to 5.999 in / 0.005 mm Resolution: Index mode: 0.0005 in / 0.005 mm Jog mode: 0.00025 in / 0.006 mm Accuracy: 0.0005 in / 0.013 mm Repeatability: 0.0001 in / 0.0003 mm Dark cabinet and vision system: Camera Illuminator Monitor.
ELECTROGLAS/EG 1034XA-6是一種高精度的螺旋槳,旨在滿足半導體測試的要求。該設備具有廣泛的功能,旨在提高測試的準確性和可重復性。EG 1034XA6能夠提供高達150 µm的精確探測和高分辨率的靜電兼容性,並提供高達10kHz的速度。此外,prober還支持一系列手動和自動探針卡插入和移除功能。其先進的自動化使得可以使用不同大小的探針卡的多個堆棧,從而能夠靈活地滿足無數的測試需求。利用ELECTROGLAS 1034X-A6獨特的圖形用戶界面和綜合編程庫組合簡化了編程。它還配備了一系列用戶可選擇的視覺和照明選項,提供測試站點的最佳可見性。EG 1034X-A6結構具有雙層結構、增強的高密度石墨板和高度範圍為6毫米至12毫米的自動X/Y/ θ機動化臺階,具有最大的穩定性和精確度。它還具有精確對準目標的功能,以幫助精確對準到測試站點的尖端。為防止汙染,該裝置配有高性能電離過濾系統。此外,它還具有直觀設計的人體工程學操作員站和腳部開關,以提高舒適性和盡量減少操作員疲勞。作為一個選項,EG 1034XA-6可以配備所需的系統電源、控制和通信電子設備,從而幫助減少安裝和設置時間。這使得prober成為高速晶圓分選和最終測試燒錄等應用的理想選擇。
還沒有評論