二手 ELECTROGLAS 4080X #158454 待售
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ID: 158454
Wafer Probers
Power Supply Module PSM
Prober Control Module PCM
Display Control Module DCM
Vision Module VM3
Pneumatics Module
EG Commander Software 6.0.1x / DOS installed
Display Control Module, DCM 2
VGA Touch Panel Display 14"
Keyboard
Light Pole
Z. Stage, 1.8Mil
Ring Carrier Plate RC2
EG Hot Chuck 8" (ambient to 130°C)
CPCS 2 Profiler
PMI
IDI
Comm. Tester Serial, TTL, GPIB (IEEE)
DPS.
ELECTROGLAS 4080X是為晶片的高效測試而設計的一種先進的Prober設備。它旨在滿足當前高級設備測試的需求,重點是速度、準確性和功能性。4080X有一個緊湊的設計,利用一個單一的支柱頭和一個緊湊的加載系統改進操作。使用高溫卡盤進行樣品安裝,真空平臺提供可靠、穩定的樣品處理。它還具有高達1000 mm的XY行程範圍和用於精確晶圓探測操作的高精度步進電機。ELECTROGLAS 4080X還包括一個板載分離室(CBC),能夠同時容納兩個晶圓大小,從而實現多個設備測試。它還具有一個大容量的自動對準器,為各種輔助程序提供了優越的視覺效果。高性能光學單元用於捕捉視場的高分辨率圖像,操作員可以在屏幕上查看和分析這些圖像。4080X配備了一個高性能的溫度控制環境,以確保儲存在試劑中的樣品保持穩定狀態。它還包括一臺用於測量諸如Rf Tolerance Precision和DC Bias等電氣參數的RF機。ELECTROGLAS 4080X有一個圖形用戶界面(GUI),使用一個大的128x64點矩陣顯示。這為操作員提供了prober功能的實時全面視圖。它的可編程軟件使得用戶可以很容易地輸入測試參數的規格,以及存儲測試結果以供將來分析。4080 X的傳感工具可確保高精度測試和高信噪比。這樣即使在困難的過程測試條件下也能獲得可重復的結果。此外,ELECTROGLAS 4080X還配備了一個可擴展的基礎,用於整合額外的探針,從而能夠測試多種技術和設計。總體而言,4080X是一種先進的prober資產,可提供高效、可靠的晶圓測試。其高性能光學、全面的GUI和先進的傳感模型使其成為測試現代設備的絕佳選擇。
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