二手 ELECTROGLAS 4085X #19607 待售

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製造商
ELECTROGLAS
模型
4085X
ID: 19607
晶圓大小: 8"
Automated Prober, 8" High volume cassette to cassette wafer prober Pattern recognition system.
ELECTROGLAS 4085X prober是一種先進的探測和測試設備,設計用於精確測量、測試和分析半導體器件。4085X是一個完全集成的系統,可提供高性能探測功能和自動測試分析,並提供復雜的診斷幫助。它通過利用高速探測、高級故障分析和映射以及自動DRC/LVS規則檢查,旨在提高產量並降低測試成本。ELECTROGLAS 4085X基於ELECTROGLAS獨有的自動定位功能,可實現快速的模具放置和精確的對準。其閉環控制單元提供了快速、準確的定位控制,而其集成的自動填充和調整機則確保了精確的並行。它的雙頭膠帶測量提供了更高的精度,而其集成的自動負載增強確保了模具面的最佳對準。4085X的探測和測試系統具有高速、高分辨率的互連工具和先進的探針對準資產,包括基於掃描的測試、熱成像和快速故障定位等功能。其先進的故障分析模型提供了故障位置的圖形表示,其低功耗、高分辨率的測試結構使得設備結構的綜合測試成為可能。ELECTROGLAS 4085X還提供全面的診斷支持設備,具有智能和基於規則的診斷分析和報告功能。它提供了電路級別、模具墊層和ESD級別的詳細信息,以及內置診斷和規則檢查。此外,它的自動化測試排序系統允許對單個基板和設備進行全面測試。4085X是一個高度先進的半導體測試和分析單元,旨在精確測量、測試和診斷半導體器件。其獨特的自動定位和對準系統、先進的探針對準和診斷支持系統,以及低功率、高分辨率的測試結構,使其成為對半導體器件進行優越、經濟高效的測試和分析的理想儀器。
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