二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #126967 待售

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ID: 126967
優質的: 2002
Wafer prober, 12" Fail mark inspection: Yes Needle inspection option: Yes Auto needle alignment option: Yes Auto needle height setting: Yes Off site marking: No Auto card changer: Only card PGV Camera Oblique and coaxial: Yes TH Clamp: Yes Card guide drawer: No High rigidity chuck: Yes RS232: No GPIB: Yes Driver marker by category: No Cleaning unit: Z-WAPP Z-Axis stroke long: Yes Hot/cold chuck temperature: +50 to +150° Internal printer: No External printer: Yes OCR: No Dual cassette: No Single cassette: Yes SACC Cart available: Yes Alignment board (VIP1, VIP2, VIP3, etc): VIP3 Linear scale: No Chiller: No Stored in a warehouse 2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn是一種用於發射精確、自動化測量和檢查的探測器。該prober旨在為半導體用戶提供更高的吞吐量和更高的運行效率,無論是在單晶圓上工作還是在4英寸晶圓上工作。它是探測和接觸器測試、微凸點、射頻測試和探測、翻轉芯片凸點鍵合、精確定位等多種應用的高度適合選擇。Prober擁有緊湊的機身,最大尺寸為1,540 (W) x 1,760 (D) x 1,660 (H) mm,這意味著它幾乎可以放置在任何環境中。TEL/TOKYO TEL P 12 XLN設備能夠進行廣泛的測試,包括聯系檢查、驗證、紅外掉落和Dommon Area Bridging。此外,它還提供一流的吞吐量和系統性能。該工具提供了具有出色運動範圍和精確度的螺旋槳結構。表面積為業界最大之列,允許最多54.2毫米x 54.2毫米的橫越和55毫米的行程。此外,該單元還具有內置的動態精細進紙器和線性伺服電動機,有助於實現高精度運動和卓越的對準精度。該探針還具有高速安裝和卸載晶片以及新開發的晶片更換器的特點,顯著提高了吞吐量。它能夠以25 µm的精度和更高的精度進行測量。此外,TOKYO ELECTRON P-12 XLN通過采用防塵設計的安全密封結構,在工藝過程中為晶片提供了極好的保護,以保證清潔度。機器還有一個先進的軟件包,它允許高精度的完全控制。這包括用於幾種測試功能的內置軟件、完全由計算機控制的操作以及宏編程。此外,用戶可以使用詳細的規格和手冊訪問有關產品的在線信息。總體而言,P-12XLn是自動測量和檢查需求的絕佳選擇。它為晶片提供了卓越的精度、高吞吐量、靈活的操作和安全的環境。由於其特性和功能,prober非常適合廣泛的應用和行業。
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