二手 HITACHI S-2300 #165214 待售

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製造商
HITACHI
模型
S-2300
ID: 165214
SEM Resolution: 4.6 nm Accelerating voltage: 0.5 to 25 kV (selectable in 35 steps) Magnification: 20 to 200,000x Maximum specimen diameter: 150mm Specimen goniometer stage: Noneucentric: X: 80mm Y: 40mm R: 360° T: -20° to 90° Z: 30mm Super eucentric: X: 32mm Y: 32mm R: 360° T: -90° to 90° Z: 30mm Automatic control: brightness / contrast, focusing, astimatism correction Memory function: magnification presetting (desired 2 points), accelerating voltage memory, specimen position memory Signal processing: Gamma control Image display and recording: commercial TV scan, slow scan (4 steps), reduced area scan, waveform, photo scan (3 steps), twin photo, automatic data display Configuration: Column unit Display Oil rotary pump Auto transformer Standard tools Spares and consumables Instruction manual.
HITACHI S-2300掃描電子顯微鏡(SEM)是一種高性能、最先進的成像系統,用於研究各種材料和應用。它是一種掃描電子顯微鏡,結合了高度自動化和卓越的成像能力。S-2300 SEM是同類產品中分辨率最高的工具,可用於材料分析、故障分析、表面成像和3D成像等多種不同的應用中。HITACHI S-2300使用具有大直徑源的混合型掃描電子柱,由加熱的鎢絲組成,與高精度級集成。這樣可以確保以高分辨率和高對比度快速準確地傳送任何掃描區域。它還配備了綜合行進磁場(TMF)探測器,在增加信噪比的同時降低加速電壓的範圍。這項技術能夠更好地成像非導電樣品,而傳統電子探測器通常無法檢測到這些樣品。除了掃描功能外,S-2300還為電子束成像的高級應用提供了廣泛的功能。其高真空性能支持使用高加速電壓對晶體結構成像。這允許對亞微米大小的特征進行成像,看到內部結構下降到原子水平。3 D自動對焦可以在沒有操作員幹預的情況下調整焦點,而自動化的舞臺控制和顯微鏡自動校準則允許即使是最精確的樣品也能進行無汙染成像。HITACHI S-2300還有一個對準系統,它可以檢測樣品和探測器之間的任何不對準。這可以提供關於樣品放置準確性的快速反饋,並且可以用來糾正圖像中的任何不成比例。它還集成了一系列軟件包,這些軟件包提供了高級分析選項,如粒子分析、數字圖像處理和3D視圖。S-2300是一種用於材料分析和圖像處理的功能強大的顯微鏡,適用於廣泛的研究和工業應用。通過將先進技術與高性能和卓越的成像分辨率相結合,HITACHI S-2300為需要最高細節度和準確性的應用程序提供了獨特的精度和控制級別。
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