二手 JEOL 2000EX II #9045377 待售

JEOL 2000EX II掃描電子顯微鏡（SEM）是一種多功能、高性能的儀器,旨在提供各種樣品類型的高分辨率成像和分析。JEOL 2000EXII SEM使用電子柱，產生一束空間分辨率優於1納米的電子束。該光束被定向到樣品表面，並在通過後被收集。這些收集的信息隨後被用於構建一個計算機生成的樣本納米特征圖像。2000 EX II提供了一個有碰撞室的成像室，允許它捕獲通過樣品的電子。這種碰撞室使得SEM非常適合成像無機材料，如半導體，晶體和多晶材料，以及陶瓷和金屬。其納米分辨率提供了樣品細節的微觀形態的清晰圖像。2000EXII還提供了廣泛的分析能力。儀器的能量色散X射線光譜儀（EDS）允許用戶識別樣品中的元素及其濃度，提供有價值的元素分析。EDS還配備了雙工作電壓，允許對具有原子分辨率的樣品進行高分辨率分析。機載EDAX反向散射電子探測器（BED）允許用戶測量結晶度、相組成和氧化態，而儀器提供的半定量分析能力為樣品提供了快速、方便的表征。JEOL 2000 EX II靈敏高效，為用戶提供出色的成像和分析結果。其高分辨率成像，加上其先進的分析能力，使其成為許多研究和材料表征應用中的寶貴工具。它兼具多功能性、準確性和性能,使2000EX II成為各種領域用戶的理想選擇,從半導體工程到材料研究。