二手 JEOL JWS 7550 #9028224 待售

JEOL JWS 7550
製造商
JEOL
模型
JWS 7550
ID: 9028224
Wafer inspection Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
JEOL JWS 7550是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於材料的高分辨率成像和分析分析。它是一種電子顯微鏡,利用電子束產生樣品的放大圖像。JWS 7550是一款具有專用電子光學器件的野外發射槍的中壓SEM。這種技術的組合以高放大倍數提供超高分辨率成像,用於生成材料微觀結構的詳細圖像。JEOL JWS 7550具有以電子為重點的系統,包括數字反饋系統,以提高分辨率和對比度。它有一個能量色散X射線(EDX)探測器,用於樣品的元素分析,在28mm的工作距離上有150 mm的全視野。這使得在成像過程中可以有廣闊的視野和寬敞的空間放置標本。JWS 7550在1-30 kV的加速電壓下工作時提供1.7 nm的出色圖像分辨率。它有一個超高真空(UHV)腔室,能夠實現低真空成像模式,有助於降低在分析過程中汙染樣品的風險。SEM采用高精度的電柱驅動,對樣品級進行無振動、精確的運動。這大大減少了圖像采集過程中的像差。它還采用了能量過濾技術,從而提高了信噪比,從而產生了更高質量的圖像。此外,JEOL JWS 7550利用最新的圖像去光束機制(Image Deblurring Mechanism,IDM)利用入射光束信息來減少中等稀有化合物空間變化造成的模糊。系統配備了自動導航圖像縫合,使其能夠在單個高分辨率圖像中捕捉整個標本視野。JWS 7550是為工業和學術研究而設計的功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡。JEOL JWS 7550結合了高分辨率的野外發射槍、EDX功能、全面的舞臺驅動機構和最新的IDM來進行圖像除錯,為各種樣品類型提供了先進的分析能力。
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