二手 PHILIPS / FEI CM 200ST #293673900 待售
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ID: 293673900
優質的: 1996
Transmission Electron Microscope (TEM)
EDS
CCD Camera
Twin lens system
Compustage
No SE Detector
No turbo pump system
Vacuum system: Rotary vane P-ODP-IGP
1996 vintage.
PHILIPS/FEI CM 200ST是一種掃描電子顯微鏡（SEM），具有可變壓力能力，能夠在細膩柔軟的材料上獲得優異的成像效果。這種可變壓力技術采用低壓氣體的連續流動，以減少表面充電量，同時提供可觀的二次電子產率，從而允許脆弱樣品的精湛成像結果。FEI CM 200ST還具有獨特的像差校正肖特基電子場發射槍，使得能夠產生一個異常低能電子束（低至1.7 keV）。這種低能操作允許在不使用導電塗層的情況下對有機和輕元素進行成像，從而便於對樣品的元素成分進行準確的檢測和分析。PHILIPS CM 200ST能夠產生具有X射線微分析和EDX映射的高分辨率成像，以及在20-30 keV之間區域的光譜分析能力。強大的EDS（能量色散X射線光譜）可用於元素組成分析，分辨率為0.7nm。除了可變壓力功能外,CM 200ST還包括兩個功能強大的硬件和軟件穩定選項,以減少振動和其他環境幹擾造成的圖像退化。無論外部條件如何,結果始終是高質量的成像。顯微鏡還具有廣泛的成像功能，從常規地形成像到先進的SEM成像技術，如：掃描透射電子顯微鏡（STEM）、掃描X射線衍射（XRD）、電子束衍射（EBSD）和電子束圖像分析（EBIA）。PHILIPS/FEI CM 200 ST的應用範圍包括材料研究、半導體分析、納米技術、嵌入式缺陷定位等等。總體而言,FEI CM 200ST是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,具有出色的成像能力,並且為研究人員和從業人員提供了廣泛的應用選項。這款最新一代的SEM具有低能電子槍、可變壓力技術以及一系列先進的成像技術，使其成為捕捉各種樣品詳細信息的理想工具。
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