二手 BRUKER DMX 300 #9035334 待售
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BRUKER DMX 300是專為微觀X射線衍射而設計的多模光譜儀。它非常適合表征各種樣品,包括薄膜、散裝材料和納米材料。該光譜儀配備了X射線源和0-300 keV的動態測量範圍。它可以檢測寬動態範圍內的X射線光子,包括廣角衍射(0.05-20°)以及超小角漫射散射(0.005-0.3°)。它能夠產生高質量和可靠的X射線衍射數據,檢測極限低至0.0001度。DMX 300具有模塊化電子設備,便於與軟件包中包含的硬件和軟件組件集成和數據采集。利用其內置的數據采集板,光譜儀可以實時捕獲圖像和掃描。並且能夠進行相位分布分析和方位角不對稱分析等高級分析。BRUKER DMX 300還得益於其用戶友好的界面,允許用戶以最少的體驗操作光譜儀。它具有易於配置和易於使用的圖形用戶界面(GUI),可用於Windows或Mac OS X操作系統。再者,光譜儀配有高分辨率顯微鏡和真空法蘭等各種配件,以及升級套件。通過升級標準的DMX 300,用戶可以提高其對特定應用程序的測量能力和可用性。為方便起見,BRUKER DMX 300提供現場培訓計劃,幫助客戶在盡可能短的時間內啟動和運行。此外,它還提供全面的售後服務系列,包括硬件維護、軟件支持和技術支持。總之,DMX 300是一種X射線光譜儀,為各種材料的研究和分析提供了極好的精度和靈活性。它易於使用、高度可定制,並為您的經濟效益提供了巨大的價值。
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