二手 GMTECH Semichem #9395375 待售

GMTECH Semichem是一種晶圓測試和計量設備，設計用於精確測量晶圓表面特性。它可以使用X射線光譜和電子光譜技術測量廣泛的納米尺度特征，如線寬和叠加精度。該系統的優點是既準確又快速,使工程師能夠快速獲得分析其設計過程有效性所需的數據。Semichem可以高精度測量晶片上直徑最大為5毫米的區域上的表面特征。它使用多種X射線光學系統，包括X射線源、X射線衍射儀和X射線探測器。X射線源產生與晶圓表面特征相互作用的X射線脈沖，產生可分析以計算線寬和叠加精度的衍射圖樣。然後X射線探測器捕獲衍射並將數據發送回分析單元，工程師可以在其中解釋數據並對其設計過程進行任何必要的調整。該機還能進行光學顯微鏡晶片分析。這包括檢查缺陷、檢查表面地形、確定薄膜厚度等用途。這類分析可以在廣泛的放大倍數範圍內進行，從而可以全面觀察晶圓表面。顯微鏡圖像可以用來指導計量數據分析，以確保它是正確的和有意義的。GMTECH Semichem工具設計為用戶友好且高效。它具有包含基本光譜參數的內置物理庫,確保工程師以最少的精力和時間獲得準確的結果。它還具有直觀的圖形用戶界面,允許用戶配置資產以滿足其嚴格的要求。該模型還可與X射線源和光學顯微鏡等集成的計量子系統配合使用，從而可以改進結果，而無需額外的硬件。Semichem設備非常適合在半導體設計和生產環境中使用,它可以提供必要的數據來指導和改進過程。它的高精度和速度使工程師能夠快速調整和調整他們的設計，以確保最大效率、產量和盈利能力。此外，它的直觀和用戶友好的特點使它適合所有技能水平的工程師使用。