二手 KLA / TENCOR P2 #9402045 待售

KLA / TENCOR P2
ID: 9402045
晶圓大小: 8"
Surface profiler, 8".
KLA/TENCOR P2是半導體工業中使用的晶圓測試和計量設備,用於在裸機和封裝集成電路上進行晶圓測試和測量,以進行質量控制。該系統由一個「探針」組成,該探針適合模具並進行測量,還有一個基於視覺的綜合檢查單元,用於識別模具放置錯誤以及模具和鉛架之間的不正確粘合,以及尋找晶片表面的缺陷。KLA P-2機器的設計目標是靈活易用。它配備了多探針技術,允許可調探針運動,主動定心,以及具有各種不同檢測協議的基於視覺的檢測工具。該資產還設計用於確保穩定的探測,並采用專有的探測驅動器設計,可實現高精度和重復性。此外,基於視覺的檢測模型能夠識別和精確測量最小的模具和鉛架缺陷。此外,該設備還包括可追蹤性和探針識別,這意味著測試結果很容易追蹤,可以映射回特定的探針。此外,可追蹤性功能還可以輕松識別潛在的過程故障,從而為將來的過程改進提供準確的預測。TENCOR P 2還包括一個全面的用戶界面,其中包括功能豐富的控制、監控和分析工具。此外,系統還可以連接到驗證單元,從而確保測試和測量結果的準確性和可重復性。總體而言,KLA P2是一款功能強大的wafert測試和計量機,它結合了靈活性和易用性,並具有全面的用戶界面和可追蹤性以及探測器識別功能。其高度精確的探針,加上基於視覺的檢驗工具和驗證資產,確保了測試和測量結果的準確性和可重復性,使其成為質量控制的有效選擇。
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