二手 GAERTNER L-26 #9026210 待售

GAERTNER L-26 Ellipsometer是一種用於測量薄膜光學特性的精密儀器。利用紅外激光的偏振光，儀器能夠以無損方式精確測量基板的厚度、光學常數（折射率和消光系數）、應力、地形和其他薄膜特征。儀器的靈敏性使其能夠以亞納米精度測量20Å至60 µm之間的薄膜。L-26由激光源、分束器、光纖、樣品級和檢測設備組成。激光源是在紅外範圍內工作的He-Cd激光器，以441.6 nm的波長發光。分束器將激光束分成兩束，即s偏振和p偏振，彼此成90度。然後,這種光通過光纜發送並入射到樣品上,通常使用6°入射。樣品安裝在一個電動樣品級上，該級能夠進行角定位和z軸位移。Z軸定位允許測量平面和非平面構型中各種基板上的薄膜。通過GAERTNER L-26的分析系統，從樣品表面反射沿s軸和p軸偏振的入射光，反射光束包含偏振橢圓偏振角。然後用這個橢圓形角度來計算厚度、光學常數、應力和其他薄膜特性。L-26還包括一個提供兩種主要功能的旋轉分析儀單元。第一種是色散測量，它允許在很寬的範圍內以不同的時間間隔測量樣品的折射率色散的能力。機器的第二種能力是光譜測量，它提供關於樣品在特定波長範圍內的光學特性的信息。總體而言，GAERTNER L-26是確定各種薄膜和基板光學特性的寶貴工具。這種高精度的工具具有以亞納米精度測量20Å至60 µm之間任何地方的薄膜厚度的能力。L-26的旋轉分析儀資產允許進行色散和光譜測量，並有助於進一步表征應力和地形等特性。