二手 GAERTNER L116D #9176490 待售

GAERTNER L116D是一種最先進的橢圓偏振儀,用於測量薄膜、基板和其他表面的光學特性。橢圓偏振儀測量光從樣品表面反射後偏振狀態的變化。L116D能夠測量薄膜的厚度、折射率、消光系數和其他層性質。GAERTNER L116D有一個1 µm步長的電動級，用於精確定位樣品進行表征。它使用633 nm的單頻激光二極管源進行照明。它也有一個可旋轉的雙折射補償器，以適當的偏振光。檢測器檢測反射光的變化，用來測量偏振程度作為角度的函數。L116D還利用計算機控制的偏振器來測量光線反射出樣品後的強度，並使用照相機直接從圖像平面測量偏振態。GAERTNER L116D利用非接觸、無損成像技術測量薄膜和基板性能。這包括橢圓偏振測量、偏振成像（PI）和反射偏振成像（RI）。其單束橢圓偏光計針對200 nm至12 µm的層測量進行了優化。其PI和RI系統可測量到600 nm深度。所有的測量都是通過L116 D的嵌入式計算機收集的，這樣可以方便地分析和與其他平臺集成。GAERTNER L116D可用於測量多種光學薄膜和基板，包括多層膜、金屬膜、介電膜和半導體。它是一種可靠的設備，靈敏度和重復性都很好，可以用於研究和生產應用。該系統還能夠測量需要多束不同入射角的復雜結構，以確定雙折射和延遲等特性。總體而言，L116D是一個完整的自動化橢圓儀單元，能夠快速準確地測量薄膜和其他表面的光學特性。它是一種可靠、靈敏的機器，適合多種多樣的應用。