二手 GAERTNER L117-C #9004407 待售

GAERTNER L117-C Ellipsometer是一種用於測量表面薄膜光學特性的設備。橢圓偏振儀使用兩個偏振光源和一個光探測器來測量被研究表面反射的光的偏振狀態。然後可以利用從反射光收集的數據來計算薄膜材料的厚度、光學常數和沈積增長。L117-C橢圓儀使用兩個內部穩定的He-Ne激光源。第一激光器作為參考，垂直於照射樣品的光束定位。第二種激光用於測量橢圓偏振反射光的大小和偏振態。光探測器由兩個象限探測器組成，測量偏振態的大小和比例。然後將數據用於確定由薄膜特性影響的極化變化。這些數據隨後可用於計算薄膜的光學性質，如其厚度、折射率和消光系數。GAERTNER L117-C橢圓儀是一種可靠、可重復、易於使用的薄膜分析系統。它是一個用戶友好的單元，可以通過交互式圖形窗口進行控制，適用於研發應用，或用於常規質量控制。它有一個集成的計算機單元，用於數據輸入的液晶觸摸屏，以及一個方便測量的全自動樣品處理單元。綜上所述，L117-C橢圓儀是一種用於測量薄膜光學性能的可靠、易於操作的機器。它使用兩個激光器和一個光探測器來精確測量反射光的偏振狀態，允許計算薄膜厚度、折射率和消光系數。它是一個方便用戶的工具，非常適合研究、開發和日常質量控制。