二手 GAERTNER L2W16D.830 #9029443 待售

GAERTNER L2W16D.830是一種精密掃描橢圓偏光計,提供可靠且易於使用的光學設備來表征薄膜材料的特性。該系統采用波長和角度分辨測量相結合的方法，以極高的精度確定薄膜的真實光學常數。它支持從圓極化和線性極化中收集數據，從而能夠全面表征金屬、矽、聚合物、半導體和生物材料等光學薄膜。GAERTNER L2W16D.830利用雙波長的HeNe激光源提供632.8和543.5nm的波長,光學耦合到精密掃描鏡。它還包括一個環形點發生器，以創建一個線焦點，容量可達5mm。這樣可以在單個掃描中評估較大的曲面區域。主動控制單元有助於確保聚焦光學器件的掃描運動一致且準確。GAERTNER L2W16D.830的光學機器設計方便,可自動設置測量參數,如光斑尺寸、振動模式和入射角。集成的二極管陣列光譜儀提供低至0.5nm的波長分辨率，在每個波長都可以快速準確地進行多次測量。該工具安裝在一個舞臺上，舞臺上裝有計算機控制的XY三腳架，能夠快速精確地定位樣品。GAERTNER L2W16D.830具有開放、直觀的用戶界面,可簡化參數調整並方便現場數據分析。提供一系列可選軟件模塊,為數據後處理和專業報告生成提供支持。總而言之，GAERTNER L2W16D.830提供了無與倫比的精確度和分辨率，對薄膜和超薄膜進行光學表征的綜合能力。該資產具有自動化的設置、直觀的用戶界面和專業的軟件模塊,是分析各種材料的理想選擇。