二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-A5000 #9178496 待售
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ID: 9178496
晶圓大小: 12"
優質的: 2007
Wafer inspection system, 12"
Software version: 7.1.0.0
Hardware configuration (Fab):
Main system:
Main body
12" FOUP System:
(2) TDK
Handler system:
(1) Wafer handing robot
Process Chms:
(1) Inspection unit
(1) Operator console
Hardware configuration (Subfab / Auxilliary Units):
IPU (Images processing unit)
Fan box (Blower)
UPS
A5000 Configuration:
FOUP: Shin-Etsu
Process gasses:
Process gas 1: PIVAC
Process gas 2: CDA
Wafer / Cassette handling:
Wafer type: 12" Semi standard notch
FOUP Type: Shin-Etsu
(25) Cassette wafers
(2) Cassette storages
System controls:
Signal tower colors: G/G/R/B
General pressure display units: Pressure Mpa
Host communications:
Host communications: User host computer
Information transfer protocol: GEM-SECS
Facility electrical equipment:
2-Line power input
200 VAC, 3 Phase
2007 vintage.
ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000 Mask&Wafer Inspection Equipment是一種綜合性、高精度的工具,旨在為檢查半導體mask和晶圓缺陷提供全面的解決方案。該系統設計堅固可靠，具有很高的準確性和可靠性。它提供了一整套功能,可幫助診斷任何類型的掩碼、晶圓或光電設備缺陷。該裝置采用先進的檢測技術，將顯微鏡成像機與聚焦離子束和原子力顯微鏡技術相結合。這種集成允許在分析到納米級的結構以及檢測不可見的缺陷或變形時提供更高層次的細節。成像工具由一個可指定的掃描區域組成，具有光學和X射線功能，以及自動調整視野。該資產還提供具有並行成像模型的高級SEM/FIB成像,以及用於無縫圖像染色的自動縫合功能,使其成為返回復雜或困難缺陷的大量數字圖像的理想選擇。TSK Win-Win 50-A5000配備了高精度掃描精度，適合嚴格的質量控制和生產職責。它還有一個自動化和高度精確的對準設備，加上匹配的圖像采集功能，可以檢測到掩模或晶片形狀的非常小的變形。該系統可以準確讀取蝕刻輪廓、蝕刻角度和蝕刻下沈。此外,該單元能夠準確快速地檢測掩模或晶片中的任何結構異常,如缺陷、裂紋和非均勻形狀。此外,ACCRETECH Win-Win 50-A5000提供了多種功能強大的內置工具,可幫助簡化掩碼和晶圓缺陷檢測和分析。這包括一套用戶友好的掃描和數據比較功能,以及一整套用於準備和跨網絡連接傳輸數據的軟件工具。此外,內置的光學散射和反射（OSR）探測器提供了多種操作模式,有助於識別和區分光滑表面中最小的缺陷。總體而言,Win-Win 50-A5000 Mask&Wafer Inspection Machine提供了強大的功能包,使用戶能夠以最高的準確性和可靠性識別和解決幾乎任何類型的半導體mask或wafer缺陷。該工具經過優化,可在研發和生產環境中使用,確保最大程度的生產力、成本效益和質量保證。
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