二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-A5000 #9178553 待售
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已售出
ID: 9178553
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Wafer inspection system, 12"
Software version: 7.1.0.0
Hardware configuration (Fab):
Main system:
Main body
12" FOUP System:
(2) TDK
Handler system:
(1) Wafer handing robot
Process Chms:
(1) Inspection unit
(1) Operator console
Hardware configuration (Subfab / Auxilliary Units):
IPU (Images processing unit)
Fan box (Blower)
UPS
A5000 Configuration:
FOUP: Shin-Etsu
Process gasses:
Process gas 1: PIVAC
Process gas 2: CDA
Wafer / Cassette handling:
Wafer type: 12" Semi standard notch
FOUP Type: Shin-Etsu
(25) Cassette wafers
(2) Cassette storages
Fork variable pitch: Twin fork
Boat / Pedestal
(1) Production wafer
System controls:
Signal tower colors: G/G/R/B
General pressure display units: Pressure Mpa
Host communications:
Host communications: User host computer
Information transfer protocol: GEM-SECS
Facility electrical equipment:
2-Line power input
200 VAC, 3 Phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000是一種掩模和晶圓檢查設備,允許用戶以高精度和高效率檢查設備。它的高分辨率成像能力和先進的光學技術使用戶能夠觀察到最復雜復雜設備的特點。該系統配備了先進的高分辨率成像兩TRACE™傳感器。它還提供亞毫秒閃光曝光,以提供無與倫比的吞吐量速率和質量結果。該單元具有可容納大小格式的大工作區,非常適合各種應用程序。它還可以容納多達6種不同類型的口罩進行檢查。TSK Win-Win 50-A5000提供高清成像，使用戶能夠準確檢測到傳統檢測方法無法檢測到的缺陷。機器還具有用戶友好界面，允許用戶輕松設置所需的檢查參數，並從單個工作站控制工具。此外,用戶還可以遠程控制資產,從而可以在字段或其他位置使用該資產。ACCRETECH Win-Win 50-A5000提供了一系列功能以確保準確性和可重復性,包括一個正在申請專利的缺陷標記功能和一個內置缺陷歷史數據庫。這些功能允許用戶隨時間跟蹤和分析缺陷以優化其過程。此外,該模型還具有一系列自動化功能,可減少重復任務並最小化設置時間。Win-Win 50-A5000還具有高級軟件工具,可提供實時數據分析和可視化。這些工具可幫助用戶優化流程,以識別更細微的缺陷。此外,該設備還具有多種功能,可促進與外部數據管理系統（如CAM系統或統計過程控制系統）的集成。總體而言,ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000是一個功能強大且用途廣泛的掩碼和晶圓檢查系統,為用戶提供檢查最復雜和復雜設備所需的準確性、速度和靈活性。它能夠檢測到細微的缺陷並提供實時數據分析，因此非常適合各種應用。用戶友好的界面和多樣化的自動化功能使其成為希望節省時間和金錢的用戶的一個有吸引力的選擇。
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