二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9163072 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50是一種半自動掩模和晶圓檢驗設備，用於半導體工業中使用的晶圓的表面檢驗。該系統適用於標準CMOS設備和高端內存IC。它能夠提供高速檢查，以檢測微小缺陷的形式，顆粒，劃痕，和各種其他異常。該單元由一個交互式用戶控制監視器組成，該監視器插入到機器主機上。它配備了高精度的XY級和高分辨率的光學工具，能夠在晶圓和相機之間提供260mm的最大工作距離。這樣可以精確定位晶片以進行檢查過程。還為顯微鏡透鏡提供了高達15°傾斜能力±的可變角度，方便檢測由於晶圓表面曲率可能肉眼看不到的缺陷。TSK Win-Win 50利用TSK VisionTools Inspection Asset方便檢測小至0.3微米晶圓上的缺陷。軟件包括缺陷編輯功能,允許快速準確地編輯檢測到的缺陷,從而加快流程流程。它還提供了高級算法,可以按類型、大小和位置準確識別缺陷。該模型還包括「設備特性」軟件包,該軟件包允許自動測量設備幾何,如表面寬度、線寬和螺距。這樣可以輕松評估設備性能,並找出需要解決的缺陷以提高設備質量。ACCRETECH WIN WIN 50設計為在各種標準潔凈室環境下運作，並設有數個內置在設備中的空氣凈化系統，為系統運作和晶圓檢查提供潔凈空氣。憑借直觀的用戶界面和易於使用的特點，這一單元非常適合滿足先進半導體生產的需求。