二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9177844 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50是用於半導體生產的Mask and Wafer Inspection設備。它旨在對各種半導體產品的關鍵特性進行準確、高效的檢查。該系統配備了高精度的數字成像顯微鏡，使其能夠準確識別視野中的缺陷和粒子汙染。TSK Win-Win 50包括一個快速準確的光學自動聚焦單元，可以在整個檢查過程中保持固定聚焦圖像。顯微鏡使用多角度偏振器，減少背景噪聲，增加視場對比度，實現更高分辨率的成像。ACCRETECH WIN WIN 50提供了許多增強其性能和準確性的功能,包括獲得專利的CCD（電荷耦合器件）圖像處理機,可以區分不同大小的粒子和斑點。它還具有獨特的傾斜補償功能,可自動調整顯微鏡視圖,以補償遮罩和晶片的傾斜角度方向,使工具即使樣品未完全對齊也能準確識別缺陷。它還能夠一次精確測量多達八個點，允許用戶識別復雜模式中的缺陷。Win-Win 50由先進的FPGA （Field Programmable Gate Array）處理器提供動力,它允許實時信號處理和圖像處理。它還具有板載PC和顯示器,使用戶能夠在檢查過程中輕松查看圖像和結果。TSK WIN WIN 50每小時最多可執行1200次檢查,使其成為最高效的系統之一。此外，其用戶友好的界面和堅固的構造使其適合在實驗室和工業環境中使用。ACCRETECH Win-Win 50不僅準確而且可靠，讓用戶確信從資產中獲得的所有結果都是準確的。其特點和精度相結合，被認為是市場上最好的晶圓和掩模檢測系統之一。