二手 ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 #9055342 待售

Advanced Metrology Systems （AMS） ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100是一種高度精確、緊湊、自動化、高速的光學檢查設備,旨在徹底改變半導體及相關行業中精確、精確的電氣、光學和3D計量測量。IR3100利用先進的激光技術和特殊的光學技術,獲得具有非常精確的3D地形和過程靈敏度測量的高質量圖像。它具有多種功能,如全步掃描和高級照明引擎,在執行測量時提供無與倫比的精度和細節。該軟件的設計易於使用,可快速準確地執行過程評估,以檢測是否存在缺陷和模具故障。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100在一個高速自動化系統中執行晶圓和掩模檢查。它可以以速度、精度和可重復性檢查大面積區域。它還有一個快速、精確的自動對焦單元，內置高分辨率傳感器。該機器的設計采用了最新功能，以確保在充滿挑戰的工業環境中獲得準確、一致的結果。IR 3100的復雜軟件能夠分析復雜的模式,例如晶片表面的規律性或其電性能。通過結合物理參數和全面的統計分析，軟件的設計為用戶提供了一個最小要求的直觀用戶界面。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100還配備了創新的高通量自動掃描功能。這將自動重新定位樣本,並在一次掃描中處理各種檢查任務。機器還可以從以前的掃描中學習，使其能夠進一步提高掃描過程的準確性和速度。IR3100是先進計量和過程監測的絕佳選擇。憑借其內置的高分辨率傳感器和先進的照明引擎，該工具可以毫不費力地捕獲詳細的測量和處理數據，以便進行高效和準確的分析。從過程評估到模具工程,ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100對於正在尋找可靠而強大的計量解決方案的用戶來說是一個極好的選擇。