二手 ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 #9100377 待售

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ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100
已售出
ID: 9100377
晶圓大小: 12
Etch depth measuring systems, 12".
高級計量系統(AMS)高級計量系統(AMS)將掩模和晶圓檢測提升到一個新的水平IR3100是卓越掃描和檢測能力的首選。這種下遊工藝檢驗設備提供了一種強大的解決方案,它結合了最先進的硬件和直觀的軟件,使制造商能夠快速準確地識別缺陷。從模模檢測到晶圓映射,AMS IR 3100的先進技術提供了無與倫比的精度和可靠性。該系統的設計具有符合人體工程學的遠景,能夠很好地訪問組件並易於調整,從而使操作員能夠受益於面向可用性的環境。此外,ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100還配備了自動測角儀卡帶,與傳統的電動測角儀相比,它提供了卓越的精度、速度和多功能性。此功能還確保了一致和可靠的測量,同時減少了校準步驟的數量。AMS IR3100提供了一個超高分辨率的檢測單元,能夠掃描多達4 M像素。它可以檢測到尺寸低至4微米的缺陷,這對於精確評估晶圓結構是必不可少的。強大的成像技術還允許制造商執行復雜的晶圓映射和測量參數。這使得機器適合一系列行業,從消費電子到衛星通信。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100除了具有檢測和成像功能外,還提供了一套自動化的計量功能。其中包括多路復用能力,允許操作員同時執行多個任務;增強二值化以快速準確地測量圖像;2 D檢測引擎,用於準確檢測缺陷;以及復雜晶圓信息的報告引擎。所有這些功能都是為了確保工具符合最高的準確性和可重復性標準而設計的。總之,先進計量系統(AMS)IR3100是一種先進的掩模和晶圓檢測資產,提供卓越的掃描能力。其先進的技術能夠快速可靠地檢測和測量缺陷,而自動化的計量功能使用戶能夠輕松、準確地執行復雜的任務。其符合人體工程學的特點提供了極好的可及性,使模型成為一個值得選擇的制造商尋找一個可靠的解決方案,他們的面罩和晶圓檢查的需求。
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