二手 ADE / KLA / TENCOR MicroXAM #9189675 待售

ADE/KLA/TENCOR MicroXAM是一種綜合性晶片測試和計量設備，對半導體制造中使用的晶片性能提供快速可靠的分析。該系統允許測量和表征晶圓表面的各種參數,包括層厚度、表面均勻性和峰值面積密度,以及其他對制造過程重要的參數。ADE MicroXAM圍繞自動晶圓處理平臺組織。該平臺可實現自動拾取和放置處理以及精確的晶片定向，以精確測量任何晶片參數。自動晶片處理程序由兩個晶片載波組成，這些載波在整個單元內移動，從而可以同時對多個晶片進行有效的測試、計量和分析。機器還提供了一套高級計量工具。這些工具允許對晶片表面進行非接觸式光學測量和表征，如層厚、峰值面積密度和表面均勻性。高級算法和軟件控制的自動對焦有助於確保準確和可重復的測量結果。該工具還提供先進的數字成像功能,允許進行詳細的成像和分析,並支持X射線分析和成像。此外，KLA MicroXAM配備了一套數據采集和分析工具，可以快速準確地處理和分析測量結果。此外,資產還提供了多種數據可視化選項,可幫助快速識別和分析關鍵組件或晶圓特性。TENCOR MicroXAM是確保半導體制造過程一致性和準確性的寶貴工具。通過提供快速、可靠的晶片測量和分析,該模型有助於減少代價高昂的制造誤差並最大限度地提高產量。