二手 ACCRETECH / TSK JF 200 #9159424 待售

ACCRETECH/TSK JF 200是一種用途廣泛、精密的探測器,用於檢查和分析晶圓、基板和其他曲面。它是一種具有高精度和重復性的多功能探針，非常適合探測、檢驗、測試矽片等材料。TSK JF 200 prober配備步進電機驅動的X-Y級，包括加熱卡盤和冷卻風扇，以確保低溫和一致的性能。它還包括一個先進的自動聚焦設備，使用Synrad激光器精確聚焦晶圓表面。該系統還能夠測量晶片和基板的尺寸和厚度，以及檢測表單表面是否存在缺陷。Prober還具有可靠和準確的視覺單元,使其能夠捕獲所測試材料的圖像,為用戶提供詳細的視覺反饋以進行進一步分析。這臺視覺機包括彩色CCD相機、LED照明和電腦監視器。計算機監視器可以用來顯示視覺工具的圖像，提供了一種方便的分析結果的方法。ACCRETECH JF 200還包括高力負載放大器、壓電驅動資產和高精度力傳感器，以確保prober能夠精確測量小的力。這種精確的測量可用於確定被測表面的材料和性質，如硬度、彈性和耐磨性。為了保證其測量的準確性和可重復性，prober還包括一個反饋控制模型，該模型不斷監測施加在晶圓上的壓力並進行相應的校正。這樣可以確保測試結果精確且可重復,與期望值的偏差很小。此外，JF 200 prober還包括一個溫度補償設備，這有助於保持測試溫度的一致性，無論測試的材料類型或環境條件如何。這樣可以確保測試結果準確一致。最後,ACCRETECH/TSK JF 200 prober由於其直觀的用戶界面和簡單的維護程序而易於操作和維護。這使得它成為需要可靠準確結果的研究人員、制造商和其他專業人士的絕佳選擇。