二手 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9081438 待售

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper是一種為納米材料表征應用而設計的X射線設備。該系統由一個X射線源、一個單軸X射線反射儀和一個用於樣品定位的級組成。X射線源提供了一系列小角度X射線散射（SAXS）和透射X射線衍射（TXRD）信號，可用於精確測量納米材料的相位、形態和微晶度，從幾百納米到單個納米的大小。反射計利用半單色X射線光束測量0.5到17度之間的散射角度，使其能夠獲取納米結構特征的高分辨率數據。ADE NanoMapper單元具有封閉的X射線源,允許在受控環境中進行測量。這避免了噪聲源或振動，也有助於確保附近人員的輻射水平保持安全。機器也是高度自動化的，有一個機器人定位工具的樣品放置。這樣可以進行高度可重復的測量,從而可以隨時間和樣品之間進行有意義的比較。KLA NanoMapper資產產生的高分辨率圖像可以很容易地進行後處理和分析。它還能夠產生多維數據集如SAXS圖像、透射X射線衍射（TXRD）數據、3D重建和高分辨率顯微照片。這些數據可以用來測量納米材料的尺寸和形狀；檢測缺陷和雜質；分析應變場；確定擴散系數；跟蹤納米材料的形態和結晶特性隨時間的變化。該模型是為滿足最嚴格的工業標準而構建的,配置為以最小的維護和停機時間運行。模塊化設計還允許在出現新的應用程序或技術時快速且經濟高效地添加升級。自動控制和嚴格的公差確保了每個實驗的可靠和可重復的結果，為科學家和材料工程師提供了有意義的反饋。TENCOR NanoMapper是材料表征的寶貴工具，提供了豐富的納米材料信息。