二手 ACCRETECH / TSK / XANDEX X1412 #9029340 待售

ACCRETECH/TSK/XANDEX X1412是一種晶圓測試和計量設備，用於檢查、分析和測量半導體晶圓。該系統旨在提供準確和可重復的結果,並具有較高的吞吐量生產率。TSK X1412提供了一系列創新的選項,包括單一數量的睪丸、各種負載板和針對特定應用程序的各種配置。該單元包括一套14種工具，包括計量、光電、電氣、晶圓制圖、深度剖析、X射線分析和表面制圖系統。計量機由高分辨率顯微鏡組成，它提供晶圓表面的詳細圖像，並允許對缺陷進行動態評估，從而提供詳細的檢查數據。還提供芯片缺陷或故障分析的檢查。顯微鏡能夠檢測亞微米結構，如最常見的電氣和機械測試。它還能夠以最高的精度測量角度和距離，從而能夠對晶圓的應變分布進行詳細的研究。XANDEX X1412光電工具由高溫計和光譜儀組成，用於測量晶圓的反射率和發光度等材料特性。這一資產使得能夠檢查有機LED芯片和其他光電材料，以及分析不同LED的光譜模式。電氣模型允許使用各種測試探針、掃描和測量進行復雜的電氣測試。設備測量晶體管、電容器等半導體器件的電性能，也驗證集成電路的功能。X1412還為先進的半導體制造提供晶圓映射。對晶圓樣本的高分辨率圖像進行像素對特征空間分布的詳細評價。該信息用於優化工藝設計和生產.深度剖析系統提供了半導體晶圓地形的完整分析。該裝置用於檢測汙染物、缺陷、異常和其他令人感興趣的特征。測量結果可用於表征半導體器件中的表面和塊狀材料並優化加工。最後，ACCRETECH X1412可以用X射線分析機進行升級，允許檢測晶圓樣品中的顆粒、裂紋和空隙等缺陷和雜質。該工具用於原料晶片的高質量控制，以保證產量的提高和成品質量的全面提高。總體而言，ACCRETECH/TSK/XANDEX X1412晶片測試和計量資產是檢測、分析和測量半導體晶片的先進可靠模型。它提供全方位的測試功能,包括高分辨率圖像、可靠的電氣測試以及檢測雜質和缺陷的能力。該設備非常適合高吞吐量測試和計量應用。