二手 ADE / KLA / TENCOR 6034 #9162772 待售

ADE / KLA / TENCOR 6034
ID: 9162772
Wafer sorter Flatness measurement system.
ADE/KLA/TENCOR 6034晶圓測試和計量設備是一種全自動檢測器,非常適合生產前和生產後的半導體檢驗和計量。它提供了無與倫比的串聯和離線晶圓檢測性能,從而實現了快速的最終產量和控制。ADE 6034系統利用最新的晶圓表面分析技術,包括白光散射法、彩色成像和SLRD。這種技術組合有助於確保快速、準確地檢測和識別任何缺陷、顆粒汙染、劃痕、邊緣碎裂或其他異常。該裝置的設計目的是在其使用壽命內實現高可靠性,並提供最小的晶圓報廢率。機器使用高分辨率CCD相機,允許從晶圓的中心進行邊緣觀測,分析任何異常,以及值得信賴的分類。這樣可以確保每個周期都提供可靠的檢查結果。KLA 6034還利用強大的軟件引擎和高級算法,使其能夠快速準確地生成一致和可靠的數據。它能夠在早期制造階段檢測任何類型的缺陷或異常,包括線緣粗糙度、線寬、金屬分析和地形圖。這樣可以確保在盡可能短的時間內獲得最準確、最可靠的工藝數據。TENCOR 6034還提供高度先進的模內計量。它整合了幾種技術,如亮場回顧、光學顯微鏡、臨界維度(CD)測量、叠加測量和SAT抄寫員線回顧。這使得它能夠提供任何樣本的完整測量,無論大小或復雜性。6034通過減少生產中斷來幫助降低成本。它可以輕松地集成到任何現有的半導體生產線中,並用於離線和聯機處理。該工具確保最大限度地優化任何生產過程,有助於提高吞吐量並縮短上市時間。最後,該資產提供了較高的數據吞吐量,以加快數據吞吐量和縮短周期。此外,它是目前市場上最可靠、最可靠和最準確的晶圓測試和計量系統之一。
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