二手 FOUR DIMENSIONS 280SI #9180333 待售

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ID: 9180333
Four point probe station Measuring bulk wafers Resistivity tester for measuring bulk wafers Conductive films: Metals EPI Alloys Diffusion Ion implantation Polysilicon Measurement range: 1E-3 to 8E5 Ohm/sq Up to 200 mm in diameter 156 mm X 156 mm Platen Speedy motions System backup diskettes Vacuum hose Ceramic probe conditioner Manual (On CD) Automap Analysis software mapping package PC Computer system: 2GHz CPU 250GB Hard drive 1GB RAM CD ROM Drive HP Deskjet color printer 19" FPD Monitor Precision probe head Software on Windows 7 Calibration set (CAL-1 to CAL 5).
FOUR DIMENSIONS 280SI是為半導體晶圓設計的晶圓測試和計量設備。它是一個集成系統,是最先進的晶圓計量平臺。它是晶圓測試和計量應用在研究和生產環境中的理想解決方案。280SI使用了一種名為「光柵束分析」的專利技術,該技術對整個晶片的多個參數進行了高度精確的2D和3D測量和分析。這有助於優化晶片工藝並驗證其關鍵尺寸和參數。該單元支持以下晶圓測量:光光、光學成像、表面地形和接觸探針技術。它能夠用幹涉測量和光譜技術以極高的精度和精確度測量多層的厚度和特征大小。此外,它還擁有一臺4D成像機,以子波精度測量深度和三維地形。FOUR DIMENSIONS 280SI工具帶有數據分析和處理算法,可以對晶圓進行全面表征。它還設有一個大觸摸屏與操作員互動。通過與中央數據庫連接,操作員可以保存和分析獲取的數據。該資產具有標準的PC連接器,允許用戶將280SI集成到其現有網絡中並在分布式環境中使用。這允許跨模型兼容性、集成以及高級數據共享和分析。該設備具有多種接口,易於配置,以適應任何操作環境。系統堅固的機械設計可確保耐用性,並可支持8英寸以下的晶片。其直觀且用戶友好的GUI旨在最大程度地減少機器停機時間並優化操作。FOUR DIMENSIONS 280SI提供卓越的高速精度和精確度,非常適合任何計量操作。憑借其創新的技術和特點,它是終極的晶圓計量平臺,能夠提供可靠和準確的結果並增加吞吐量,用於研究和生產目的。
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