二手 ADE / KLA / TENCOR AWIS 3100 #9148343 待售

ADE/KLA/TENCOR AWIS 3100是一款頂級的掩模和晶圓檢測設備，設計用於對用於開發和生產集成電路、封裝等產品的半導體器件進行高分辨率檢測。ADE AWIS 3100將多種先進的成像、計量和模式識別技術結合到一個單一的、集成的平臺中。該系統具有高分辨率成像工作站,能夠以卓越的精度捕捉極小設備的圖像。它還配備了先進的SRAM內存芯片分析儀，用於檢測片上SRAM細胞的缺陷。SRAM內存測試功能使該工具對於分析可能存在時序、邏輯和功能缺陷問題的組件非常寶貴。KLA AWIS 3100還具有先進的缺陷映射和報告技術,使工程師能夠快速定位和識別掩碼和晶片中的潛在缺陷。該單元可以標記缺陷位置並提供有關可能問題的詳細報告。可以自定義這些報告以包括缺陷類型、其位置和其他相關詳細信息等附加信息。這使得工程師能夠快速評估各種缺陷,而無需長時間費力的測試。該機進一步配備了先進的光學缺陷映射能力，使其即使在不均勻照明的情況下也能快速準確地檢測到口罩上的缺陷。這種能力使得能夠在制造前檢測產品的缺陷，從而提高成品的總產量和質量。最後,TENCOR AWIS 3100的設計采用了用戶友好的圖形界面,無論其技術背景如何,都可以方便地為眾多工程師和技術人員使用。因此，它是需要高分辨率和準確性檢查的半導體制造工藝的理想選擇。