二手 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9183764 待售

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper是為納米材料表征而設計的高分辨率X射線成像設備。該系統結合了ADE超高分辨率X射線光源和先進的光束線光學技術，以及KLA納米鏡剖面儀。這兩項技術共同努力，產生了前所未有的納米材料圖像和測量結果。TENCOR為其X射線源提供了強大的納秒脈沖200千伏電子註射器和束線光學器件。光束光學器件可提供高達納米分辨率的極高分辨率圖像。這允許對單個納米結構進行詳細的結構和元素分析。該單元還包括用於X射線成像的電荷耦合器件（CCD）探測器，以及用於檢測來自離子相互作用的電子的多通道板探測器。ADE/KLA/TENCOR納米鏡Profiler是ADE NanoMapper中使用的第二種技術。納米鏡提供連續的納米表面地形測量，使機器能夠測量表面積、粗糙度和顯微鏡等一系列表面參數。這與X射線源相結合，創建了納米變質和表面變量的高度詳細的圖像。除了成像之外，KLA NanoMapper還結合了ADE專利的掃描電子顯微鏡（SEM）技術，用於納米尺度特征的詳細分析。該技術包括先進的電子顯微鏡，與高靈敏度電子探測器結合，獲得納米結構形態特征的精確圖像。這為用戶提供了進一步分析和比較的數據。該工具還設計為高度便攜式,允許用戶在任何環境範圍內拍攝納米結構的快照。這使得它非常適合在各種條件下表征納米材料。總體而言，NanoMapper是為納米材料表征而設計的先進X射線成像資產。其ultral-high resolution X-ray source, beam-line optics, CCD detectors, Nanoscope Profiler, and Scanning Electron Microscopy的組合，創造了一個獨特的模型，讓使用者可以獲得無與倫比的圖像和高攜帶性的納米結構測量。