二手 RUDOLPH FE 4 #9128266 待售

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RUDOLPH FE 4
已售出
製造商
RUDOLPH
模型
FE 4
ID: 9128266
晶圓大小: 8"
優質的: 1995
Film thickness measurement system, 8" 1995 vintage.
RUDOLPH FE4是一種最先進的自動化測量設備,設計用於測量具有廣泛斜角和s偏振角配置的薄膜厚度和光學常數。FE4是一種快速可靠的薄膜厚度和光學常量測量工具,可以以0.001 nm的高精度運行。它利用先進的硬件和軟件技術實現了較高的準確度,使用戶能夠快速準確地測量薄層。RUDOLPH FE4采用4460雙折射3英寸橢球測量儀,配有高精度壓電角度掃描儀,確保了廣角測量範圍。這種配置還具有很大的靈活性,因為系統可以在任何大小、形狀和方向的基板上測量薄膜。角度掃描範圍還允許在復雜彎曲基板上測量薄層時具有更高的精度。FE4單元由直觀易用的PC軟件包控制,每層都有預定義的測量協議。該軟件能夠測量任何厚度的薄膜,包括尺寸小於1納米的薄膜。還可以確定薄膜是否均勻。該機配備了先進的偏振調制技術,使得能夠在幾毫秒內確定光學常數和薄膜厚度。它配備了兩個專門設計用於在一次掃描中確定光學常數和薄膜厚度的專用測量系統。RUDOLPH FE4包含了能夠提供數據實時重新計算的高級數據處理軟件。重新計算過程考慮到由於環境變化而導致的測量誤差,如灰塵、濕度和溫度,以及由於薄膜堆棧光學缺陷造成的誤差。這樣可以防止數據丟失並提高測量的可靠性。總之,FE4是一種高效、可靠、用途廣泛的薄膜厚度和光學常量測量工具。它為用戶提供了廣泛的角度測量範圍,先進的數據處理軟件,以及在復雜基板上測量薄膜厚度的能力。這些特性使得RUDOLPH FE4成為任何薄膜厚度測量任務的理想選擇。
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