二手 FILMETRICS F20 #293621612 待售

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ID: 293621612
Thin film analyzer Wavelength range: 380-1050 nm Film thickness measurement range:15nm - 70 μm.
FILMETRICS F20是一種晶圓測試和計量設備,設計用於在廣泛的材料和發射角度上對薄膜厚度和光學常數進行高精度、無損測量。該系統利用一組高級算法,能夠在幾秒鐘內進行準確、可重復的測量,從而能夠快速輕松地表征對設備性能有直接影響的設備層和參數。FILMETRICS F 20單元由兩個主要組件組成:測量頭和控制臺.測量頭包含一個寬廣的光源,用於測量晶圓樣品在發射角度範圍內的光學特性。控制控制臺提供了一個用戶友好的界面來控制樣本位置和選擇,以及數據輸出選項。F20機有一系列附件可供進一步方便樣品測量,包括透鏡、棱鏡、濾鏡和其他光學元件。F 20工具包含了專利的光譜橢圓偏振檢測(SED)資產,該資產使用光學幹涉來精確測量樣品的厚度和光學常數以及表面粗糙度。這樣可以在幾秒鐘內進行精確和可重復的測量,同時無需銷毀樣品和處理樣品。SED模型還能夠精確檢測和跟蹤薄膜計量和其他材料參數。FILMETRICS F 20設備提供了一系列數據分析選項,以幫助用戶準確計算所需參數並可視化結果。該系統可以進一步提供流行格式的數據輸出,包括ASCII、CDF和二進制,以便於數據共享和分析。FILMETRICS F 20單元能夠為包括半導體、金屬和介電層在內的一系列材料提供精確、可重復的測量。該機器為研究人員提供了一個理想的平臺,他們希望為各種設備和應用準確、快速地表征薄層和表面效果。
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