二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269339 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2掩模和晶片檢測設備是用於集成電路掩模和半導體晶片高級成像和檢測的線路系統的頂部。這一通用單元的設計符合最高的精度和性能標準，能夠以高效率和準確度檢查Mask、Wafer和JPEG圖像。AMAT SemVision G2機器提供的高級成像功能使操作員能夠拖放不同的檢查參數,從而為設備增加了無與倫比的易用性。該工具的主要特點是能夠檢測掩模或晶片設計區域內或實際芯片表面上的缺陷。APPLICED MATERIALS SemVision G2具有高達每英寸1024像素的先進像素分辨率和先進的缺陷識別算法，可以檢測到亞像素大小和諸如通氣和粒子等關鍵缺陷。此外,該資產還包括一個顯微鏡圖像庫,為操作員提供額外的細節和功能,例如3D視圖和拆分影片。SemVision G2還配備了集成的自動化相移掃描技術，使操作員能夠快速準確地檢查口罩的註冊和相位精度。除了可定制的視野、靈活的照明和創新的缺陷分類功能外,用戶還能夠快速檢測和隔離嚴重缺陷區域。該模型包括一套軟件包,旨在促進快速高效的缺陷查看、高級缺陷跟蹤、精確的報告和可定制的圖像查看。該軟件加上AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G2直觀的用戶界面，使得經驗豐富、經驗不足的操作員可以輕松使用。AMAT SemVision G2掩模和晶圓檢驗設備旨在提供市場上可用的最高成像、檢驗和分析標準。憑借其高分辨率、自動化特征識別能力和用戶友好的界面，該系統是半導體制造商和集成電路設計者的理想選擇。