二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9261314 待售

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ID: 9261314
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Defect review system, 12" Process: SEMREV Wafer ID reader Backside bar code wafer scribe reader Carrier ID: Tiris compatable RFID Operator access switch: VeritySEM-AUTO 8 Wafer mapping: Through beam mapper VeritySEM-AUTO 6 Optical FOV: Large optical FOV 100x, 20x and 2.5x Tilt function Contact hole profile grade SECS Capable output VeritySEM-SYS2 Wafer stage: Anorad stage Interlocks: ETU Access panel Interface: (2) FOUP (Continuous flow operation) Remote units: Dry and vacuum pumps Signal tower: Red / Yellow / Green / Blue Power supply: HVPS, CDM Does not include dry pumps CE Marked 2006 vintage.
AMAT/AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3是一款新一代的掩模和晶圓檢測設備,旨在幫助芯片制造商提高工藝產量。它使用了一套先進的機器視覺技術來準確評估每個掩模和晶片的復雜結構和層,從而實現更快、更可靠的過程控制。該系統提供了納米級缺陷的詳細視圖,有助於加速和改進產量優化工作。AMAT SemVision G3配備了一系列自動映像和分析功能。它采用高倍光學系統進行詳細的模式分析,包括在納米級進行檢查的能力。它捕獲並報告了一系列材料上的缺陷,如微空隙、顛簸和劃痕,其中包括砷化氙和鐵氧體。這使操作員能夠快速準確地跟蹤和消除錯誤源。該單元建立在一套全面的硬件、軟件和數據管理工具之上。其集成傳感器可實現多種檢測方法,包括暗場、明場、斜場、離軸和明場輔助高分辨率成像。為了便於分析和報告,該機器與最新的圖像處理和模式識別技術集成在一起,包括3D模式檢測、對象分類和靈活的自動化模型。應用材料SemVision G3還提供一系列質量控制和統計過程控制服務。這些包括缺陷檢測、缺陷掩模檢查和顆粒評估。該工具還提供了一系列故障分析工具,為操作員提供數據驅動的見解,從而能夠做出明智的決策。此外,SemVision G3提供即時晶圓匹配和晶圓分級服務。這些服務使用實時掃描數據來評估模式、識別異常並將結果與預期性能進行比較。這有助於制造商快速評估和優化其產品的質量。總體而言,AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G3提供了一個集成的、功能強大的掩碼和晶圓檢測資產,可幫助芯片制造商提高工藝產量。其先進的特點,包括模式分析、缺陷檢測分析、晶圓匹配分級和故障分析,使其成為提高生產質量的寶貴工具。
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