二手 JEOL JBX-9300FSZ #9236559 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

製造商
JEOL
模型
JBX-9300FSZ
ID: 9236559
E-Beam lithography system Cassette loader and control computer Power racks and HV tank Manuals and schematics Gaussian spot electron beam: 4nm diameter Accelerating voltage: 50 kV / 100 kV Current range: 50 pA - 100 nA Scan speed: 50 MHz Vertical range automatic focus: ±100 µm Vertical range manual focus: ± 2 mm ZrO With thermal field emission source Vector scan for beam deflection Maximum 300 mm (12") wafers with 9" of writing area Line width writing at 100 kV: < 20 nm Field stitching accuracy at 100 kV: < 20 nm Overlay accuracy at 100 kV: < 25 nm.
JEOL JBX-9300FSZ是一種掃描電子顯微鏡(SEM),為研究人員提供高性能成像和分析能力。此工具將提供高分辨率的時間或橫截面成像,以及出色的元素分析功能,如自動化樣品處理設備和高分辨率光學器件。JEOL JBX 9300FSZ的關鍵部件包括高分辨率帶電粒子光學柱、高靈敏度二次電子探測器、自動化樣品處理系統和聚焦離子束(FIB)。光學柱的最大分辨率為0.4納米,動態聚焦可降至0.1納米,用戶可以對任何樣品進行細粒度圖像和元素分析。二次電子探測器能夠檢測能量範圍從0.1V到30kV的電子,讓用戶獲得樣品的高分辨率圖像。自動化樣品處理單元允許樣品的自動裝卸,以及電子束的自動定心和校準。JBX-9300FSZ還包括一個能夠掃描每秒10毫米的高速掃描階段、各種各樣的極化探測器、一個冷凍探針和一系列樣品持有者。冷凍探針使用戶能夠在低至-247 °C的溫度下對樣品進行成像,而樣品持有者將保存尺寸從1 x 1 mm到150 x 150 mm不等的樣品。掃描級還具有真空兼容連接器,以便於集成用於氣體分析的提取模型。JBX 9300FSZ還提供各種用於分析和圖像處理的軟件包。這些軟件包包括用於圖像分析和測量的軟件包,以及用於三維重建的軟件包。這些程序提供高級特征提取和分割工具,以及復雜的圖形和數字數據可視化。總體而言,JEOL JBX-9300FSZ是一種出色的掃描電子顯微鏡,具有先進的成像和分析能力。其廣泛的特點使其成為高分辨率成像和復雜樣品分析的理想選擇。這些特性,加上其令人印象深刻的分辨率和自動化的樣品處理機,使得它成為任何希望獲得高分辨率圖像和元素信息的研究者的理想選擇。
還沒有評論