二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #131981 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

ID: 131981
Wafer inspection system.
LEICA/VISTEC MIS 200是一種創新的掩模和晶圓檢測設備,旨在為用戶提供確保高精度性能的高效方法。該自動化系統旨在優化每種被檢驗產品的質量,提供準確可靠的結果。該單元配備了兩個主要元素:一個成像子系統和一個模式識別子系統。成像子系統配備了自動晶片掃描、先進的模式識別,以及一臺甚至可以檢測晶片上最小缺陷的高分辨率圖像掃描機。模式識別子系統包括一個功能強大的軟件包,用於識別和評估晶圓或掩碼的狀態。這使工具能夠識別可能影響產品性能的缺陷。集成成像資產還包括彩色相機、濾鏡和成像鏡頭,它們能夠以極高的精度捕獲掩模和晶圓的圖像。鏡頭執行串聯和離線掃描,提供晶圓或掩模的全場圖像,以獲得最高精度。用戶友好的觸摸屏還允許直觀控制模型。此外,LEICA MIS 200配備了模式識別功能,可以識別和區分復雜和簡單的模式,以及確定它們的區域覆蓋範圍。該設備可以精確測量晶圓和掩模尺寸,執行缺陷測量,並分析關鍵尺寸和地形測量。系統直觀的用戶界面允許用戶快速設置並運行測試,而其智能數據分析則允許輕松快速的數據分析。這使用戶能夠快速識別潛在問題並采取糾正措施。VISTEC MIS 200非常適合在質量和準確性最高的制造環境中使用,因為它使用戶能夠快速準確地分析其產品的缺陷。這種面罩和晶圓檢測儀既性能快又精確度高,是任何現代工廠必不可少的工具。
還沒有評論