二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9254135 待售

LEICA/VISTEC MIS 200是一種領先的自動掩模和晶圓檢查系統。它由LEICA開發,具有先進的成像、機器學習和模式識別技術,可提供快速可靠的缺陷檢測和分類功能。它最大限度地提高了質量控制，加速了掩模和晶圓的制造過程。LEICA MIS 200能夠通過其動態照明、亮場、暗場和斜角光學模式獲取掩模或晶片每一層的圖像。由於其優越的成像能力和多種在線檢測技術，它能夠檢測和分類到納米級以下的缺陷。該系統可以在掩碼和晶圓表面上構建每一層的3D圖像,以便進行更精確的檢測。VISTEC MIS 200具有直觀的圖形用戶界面（GUI）,使操作員能夠在質量控制方面執行更快、更了解情況的決策。GUI配備了基於觸摸的操作,可提供導航和導航控制,以便在復雜缺陷分析中進行更輕松的實驗。它還具有集成的圖像分析、圖像校正和缺陷圖分析軟件，可以加快和加速質量控制操作。在計量和缺陷跟蹤方面，MIS 200集成了模式識別算法和魯棒缺陷檢測技術。高級算法可以準確檢測和分類掩模或晶片每一層上的缺陷,並創建具有感測和測量功能的全面缺陷剖面。這有助於操作員進行進一步的分析並做出明智的決策。此外,LEICA/VISTEC MIS 200還提供統計過程控制（SPC）功能,以監測制造過程和測量產品質量。這有助於減少面罩和晶圓制造的拒絕和浪費。總之，LEICA MIS 200是一種高性能的掩模和晶圓檢測系統。它具有可靠的缺陷檢測、圖像和缺陷分析以及統計過程控制功能。其先進的成像、模式識別和機器學習技術使操作員能夠快速識別和解決缺陷，改進質量控制，減少拒絕和浪費。