二手 METRICON PC 2010 #9084282 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

METRICON PC 2010
已售出
ID: 9084282
Prism Coupler Dual Laser Film Measurement System Updated software Dual Wavelength: 633nm and 1551nm Unparalleled accuracy in measurement of thin film thickness and refractive index Bulk refractive index and thin film/bulk birefringence Includes PC and new software.
METRICON PC 2010是一種用於光刻掩蔽和晶圓制造的掩模和晶圓檢驗設備。該系統根據光掩模和晶片的反射率剖面(光反射率400-750 nm)檢查其質量,並為每個樣品提供具有代表性的反射率剖面報告。該裝置旨在檢測光掩模中的材料缺陷,並就各種尺寸的晶片制作檢驗報告。它具有先進的光學閱讀機和定制的100倍降序和成像平臺,可以使用基於Tri Stack的照明檢查高達200 mm的模具。該工具由晶片級、光頭和運行METRICON Image Analysis Software軟件包的計算機資產組成。光頭包含一個背光掃描儀,由100倍物鏡和包括綠色、紅色和紅外LED在內的多個光源組成。物鏡安裝在Y臺上,具有XY平移階段和X軸旋轉階段。這允許在樣品上掃描光源,而樣品固定在晶片級。晶片級由兩個可調節的傾斜和旋轉級組成,一個固定卡盤和一個真空拾取架。晶片級還具有機械和電磁級校準模型。METRICON圖像分析軟件是一個功能強大的圖像分析和比較軟件包。它具有自動全局繪圖技術,為每個樣品提供一個單獨的反射輪廓,使其能夠準確比較樣品的明暗水平。軟件還包括缺陷映射應用程序,允許用戶在可見和不可見範圍內映射樣本的特征。軟件還可以自動測量整個表面的晶圓厚度,並辨別空間誤差和基於時間的誤差。總體而言,METRICON PC 2010Mask&Wafer Inspection Equipment是一個先進的系統,允許用戶快速準確地檢查掩模質量並生成晶圓檢驗報告。由於它的掃描和成像能力,它提供了對樣品的明暗區域的精確測量。此外,內置的圖像分析軟件使得比較多個樣本和繪制出表面缺陷變得容易。因此,該單元是光刻工業質量保證和生產過程的寶貴工具。
還沒有評論