二手 SEMIPROBE SA-6 #9241340 待售

製造商
SEMIPROBE
模型
SA-6
ID: 9241340
晶圓大小: 6"-12"
Wafer inspection systems, 6"-12" With iso tables Objectives: 10x and 50x.
SEMIPROBE SA-6 prober是一種用途廣泛、功能強大的晶圓探測解決方案,能夠處理各種芯片和晶圓。通過精確定位和精確映射每個模具,實現了測試產量的最大化.SA-6具有高精度單真空卡盤和全自動模板掃描功能,可減少手動對準時間。這種螺旋槳提供了可靠和可重復的結果,具有較低的模模變化。它為不同的應用提供各種探針卡。SEMIPROBE SA-6 prober由一個基本單元、一個模具掃描平臺和一個探針卡組成。基本單元包括提供精確晶圓索引的強大數字信號處理器(DSP),以及用於精確晶圓到探針卡映射的微處理器控制的z軸。模具掃描平臺可掃描500 mm,可容納各種模具形狀,包括扁平、方形、矩形和圓形。它允許對平臺上的每個模具進行精確對齊,以獲得一致的測試結果。Prober中SA-6探針卡設計用於提供高運行速度的精確和可重復的測量。它經過校準以獲得最佳性能,並具有可重復和一致測量的自動調平系統。它還配備了適用於不同芯片尺寸或測試結構的廣泛選擇的手動或自動測試頭適配器。除了精密探針卡功能外,SEMIPROBE SA-6 prober還提供許多其他功能來提高測試質量。這些包括內置力控制功能,消除傾斜或偏斜造成的對齊不準確。它還具有可調的劑量和射程,以減少測試到測試的變化。此外,一個綜合平整校正系統允許在整個陣列晶圓精確測量。即使在最具挑戰性的測試環境中,SA-6 prober也能提供可靠和可重復的結果。它具有專有的自學算法,可隨時間優化性能。其故障安全技術旨在檢測和消除探針卡錯位或短路,確保可靠的測量結果。此外,它的集成記錄和診斷軟件提供了測試結果的全面概述。
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