二手 VEECO Contour GT-X3 #9309528 待售

VEECO輪廓GT-X3掃描探針顯微鏡（SPM）是一種高度先進的分析儀器，用於各種與研究相關的應用。它的設計目的是能夠對表面地形、電氣和機械特性進行納米級測量，並以次埃分辨率對材料進行光譜成像。輪廓GT-X3 SPM利用兩臺壓電掃描儀（分別為15 µm和150 µm），能夠產生納米級掃描模式。這允許對各種納米級材料進行表征。VEECO Contour GT-X3利用基於懸臂的系統和若幹集成傳感器,從而能夠獲取具有納米分辨率的電氣、熱和機械數據。此外，顯微鏡還具有可變溫度控制能力，可從室溫到450°C進行測量。輪廓GT-X3具有直觀的觸摸屏界面,便於數據采集和分析。它允許定制掃描模式、顯微鏡速度和測量，以及多模式成像層的實現，如光學顯微鏡和原子力顯微鏡（AFM）。該系統還配備了集成的鎖定放大器和自動級控制能力，使其成為定量測量的理想儀器。此外,VEECO Contour GT-X3 SPM還為用戶提供了高度的靈活性,能夠處理各種探針尖端和懸臂。它還支持各種軟件包的集成，包括ProScan，它為用戶提供了眾多的高級成像選項。為確保最佳性能,定期對輪廓GT-X3 SPM進行維護和校準。這涉及更換經常因磨損而最終損壞的部件。VEECO技術人員在執行這些程序方面經驗豐富,可以為用戶提供質量保證。總體而言，VEECO Contour GT-X3是研究和行業專業人員尋求研究具有亞埃分辨率的納米級特征的理想儀器。它的分辨率允許在捕獲的掃描中實現前所未有的準確性,使其成為任何納米科學或納米技術研究或企業的寶貴工具。