二手 HITACHI S-4700 Type II #9259272 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

HITACHI S-4700 Type II
已售出
ID: 9259272
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM) OXFORD EDS included Low kV performance with resolution of 2.1 nm at 1 kV (2) Secondary electron detectors.
HITACHI S-4700 II型掃描電子顯微鏡(SEM)是一種功能強大的顯微鏡設備,利用掃描電子束產生樣品表面的高分辨率圖像。它是一種用途廣泛的工具,可用於對多種材料進行成像和分析,如固體金屬、生物組織和礦物。HITACHI S 4700 TYPE II具有獨特的雙柱設計,使用戶能夠從1 kV到30 kV的一系列加速電壓中進行選擇。這提供了高空間分辨率和低標本漂移,減少了頻繁聚焦的需要。SEM能夠以高達500,000倍的倍率生成高分辨率圖像,並且可以生成彩色圖像以更好地分析某些特征。S-4700 II型具有一系列提高圖像精度和對比度的先進技術,如反向散射電子成像(BSEI)、二次電子成像(SEI)和能量色散X射線光譜(EDS)。SEI允許使用超小型電子成像,主要產生地形圖像,而BSEI則使用更多從樣品中散射出來的質量電子,產生具有更多表面特征的圖像。EDS功能允許用戶分析元素組成,主要用於查看薄膜結構。S 4700 TYPE II具有許多功能,使其非常適合多種應用,例如半導體和器件的納米級分析。它還能夠表征生物樣品以及聚合物、陶瓷和金屬等材料。用戶友好且易於使用的軟件使SEM成為學術界、研究界和工業界的寶貴工具。此外,HITACHI S-4700 Type II還配備了多種復雜的附件,如視頻顯示器、真空系統和攝像頭接口。集成真空系統為成像和分析創造了幹凈的環境,而攝像機界面則允許實時數據采集。視頻監視器以各種查看格式顯示高分辨率圖像。總體而言,HITACHI S 4700 TYPE II是一種精密而強大的成像工具,用於各種材料的納米級分析。它的功能和附件功能使用戶能夠充分利用SEM必須提供的映像功能。
還沒有評論